Las propiedades de los dispositivos microelectrónicos están basadas esencialmente por materiales semiconductores, para los cuales la optimización de sus propiedades es de gran importancia ya que se busca aminorar el gran consumo de energía. El constante avance en las tecnologías de la información ha llevado al desarrollo de nuevos materiales, entre los que se encuentran los semiconductores magnéticos diluidos (SMD), que son materiales que permiten tener en uno mismo, características semiconductoras y magnéticas simultáneamente, obteniendo así dispositivos más eficientes y con menor consumo de energía que los tradicionales. La fabricación de multicapas, formadas por películas alternadas de un material semiconductor no magnético y de un material ferromagnético, donde se espera que la interacción entre el espín de los átomos dopantes y los portadores del semiconductor sirva para producir orden ferromagnético en toda la red de estos materiales. En la búsqueda de nuevos candidatos SMD se ha impulsado por dos requisitos fundamentales, un sistema de materiales con características de crecimiento que cumplan con el acoplamiento spin-portador de un material semimagnetico y una alta temperatura de Curie; lo cual hace que el descubrimiento y la producción de estos materiales sea un gran desafío en la Ingeniería de materiales. En este sentido, las investigaciones orientadas hacia el estudio de semiconductores magnéticos diluidos bajo la variación sistemática de las variables implicadas en su fabricación, permitirán abrir un camino a incursionar en la fabricación de dispositivos con dichas propiedades aplicadas en la tecnología de la espintrónica. En este trabajo se crecerán multicapas de GaAs/Cr mediante la técnica de magnetrón sputtering r.f. sobre sustratos de silicio (100); la cual ha sido poco investigada y de bajo costo lo que hace más interesante aun crecer este tipo de estructuras por esta técnica; conllevando así a que este trabajo sea un gran aporte científico para el país; estudiando estas estructuras y analizando sus propiedades ópticas y magnéticas mediante las técnicas de caracterización estructurales como; Difracción de rayos X (XRD), Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) para analizar el tamaño de grano y con el fin de determinar la morfología y rugosidad de la película, la técnica óptica como Microscopia Raman la cual además de dar información sobre el tipo de moléculas presentes en el sistema también brinda información de tipo estructural y la técnica magnética mediante Magnetometría de muestra vibrante (VSM) para medir la magnetización (M) de la muestra, teniendo en cuenta el volumen de la muestra y la constante de calibración del VSM.