En este proyecto se abordará el problema de obtener el levantamiento topográfico de objetos microscópicos opacos por medio de una técnica de no contacto, no escaneo y un solo disparo. El levantamiento topográfico de objetos microscópicos opacos por medio de técnicas de no contacto se ha llevado a cabo a través de técnicas de microscopia confocal y de interferometría de microscopia holográfica digital. En la primera, debido a su principio de funcionamiento es necesario hacer un barrido sobre la muestra para poder obtener una imagen de la muestra. Esta condición implica que la técnica sea lenta y requiera de sistemas mecánicos de alta sensibilidad y estabilidad mecánica que permitan realizar desplazamiento en el orden de fracciones de los micrómetros. En algunas variantes de la interferometría de microscopia holográfica digital es necesario hacer al menos tres registros de la muestra, para poder procesar la información y obtener una imagen de la muestra. Esto implica que no se pueda utilizar la técnica para el estudio de una muestra dinámica; además del considerable costo computacional asociado con dicha técnica. Con el fin de solucionar el tipo de inconvenientes que presentan las técnicas mencionadas, se propone en este proyecto de tesis de maestría una solución cuyo principio fundamental se soporta en técnicas de imagen cuantitativas de fase (QPI) combinadas con un montaje óptico de microscopia holográfica digital (DHM) por reflexión en configuración fuera de eje y cuyo sistema formador de imágenes opere en modo telecentrico. El uso de esta arquitectura permitirá obtener el levantamiento topográfico de muestras opacas a partir de una sola toma y en el campo de visión completo del objetivo de microscopio. La relevancia tecnológica del proyecto se justifica en el alto nivel de aplicabilidad que tiene en las ciencias de los materiales y en la micro-tecnología un sistema de perfilometría con las características arriba mencionadas. Entre las aplicaciones a las ciencias de los materiales la técnica propuesta permitirá estudiar y analizar el crecimiento de las películas delgadas que se generan en los laboratorios mediante técnicas de deposición. Además la técnica podría ser utilizada en los centros de desarrollo de estructuras de sistemas microelectromecánicos MEMs, con el fin de observar la estructura y dinámica de éstos.