Síntesis de películas delgadas de SnS, SnS:Bi, ZnS:In mediante co-evaporación y sulfurización y su caracterización óptica, eléctrica, morfológica y estructural mediante transmitancia espectral para hallar las constantes ópticas, Difracción de Rayos X (DRX) para establecer la estructura cristalina, las constantes de red y las fases cristalograficas y Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) para hallar el tamaño de grano y rugosidad de las películas; adicionalmente las películas de SnS y SnS:Bi se estudiaran mediante fotoconductividad para determinar la respuesta espectral y mediante termopotencia se encontrará el tipo de conductividad.